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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
德國BYK
德國EPK
美國狄夫斯高 Defelsko
美國Fluke 福祿克
美國Mark-10測力計(jì)
美國雷泰 Raytek
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時(shí)代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統(tǒng)
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COULOSCOPECMS2庫倫法測厚儀現(xiàn)貨嘗鮮價(jià)CMS2系列儀器通過電解去鍍的方法測量鍍層的厚度。庫侖法也可用于準(zhǔn)確地確定任何類型基材上的多層涂層的厚度。CMS2 STEP版本允許對單個(gè)鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試，以檢測電位差（例如，多層鎳鍍層的質(zhì)量控制）。
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xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。
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fischer鍍層測厚儀RMP30-S現(xiàn)貨供應(yīng) 該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢是利用電阻法測量不會(huì)受到其他層的影響，因此能夠精確測定上層面銅層的厚度。
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fischer測厚儀mp0活動(dòng)特惠小巧、方便且穩(wěn)固 – MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現(xiàn)場可靠測量的理想設(shè)備。
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便攜式x射線測厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件?；诨緟?shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測量。
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鐵素體儀fmp30 德國菲希爾FISCHER鐵素體含量檢測儀FMP30簡單介紹鐵素體含量測定儀的詳細(xì)介紹FMP30鐵素體含量測定儀|FMP30鐵素體測量儀FISCHER鐵素體檢測儀儀器小巧、便攜，是新一代的產(chǎn)品，更加美觀，實(shí)用。
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涂層測厚儀現(xiàn)貨供應(yīng)新款上市 德國Fischer FMP10涂鍍層測厚儀，德國Fischer FMP10 手持式鍍層測厚儀涂層測厚儀是一款標(biāo)準(zhǔn)手持綠油厚度測量儀，用于對幾乎所有金屬上的涂層進(jìn)行非破壞性厚度測量，尤其是PCB版上面的綠油測厚儀，非常精準(zhǔn)，是華為，富士康等大型的工廠的綠油厚度檢測的鍍層測厚儀。
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篤摯現(xiàn)貨優(yōu)質(zhì)fischermp0涂層測厚儀膜厚儀由德國生產(chǎn)，該MP0測厚儀集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。Fischer 的進(jìn)口測厚儀產(chǎn)品線涵蓋了測量和分析儀器，廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。德國FISCHER菲希爾MP0涂層測厚儀膜厚儀測量時(shí)使用合適的測量方法，可以獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果以及較佳的重復(fù)精度。
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測厚儀探頭Fischer FD10 來自德國Fischer雙功能測厚儀探頭FD10，多適用于主機(jī)DualScope FMP20和DualScope FMP40，是標(biāo)準(zhǔn)兩用探頭，適用于磁感應(yīng)以及渦流法測量測厚儀上，能夠自動(dòng)識別測量方式，顯示儀器。
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德國菲希爾fischer xdl-230 鍍層膜厚測試儀 德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
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fischer FMP30 鐵素體含量檢測儀 篤摯代理由fischer公司生產(chǎn)，測量精度高，可以準(zhǔn)確的測量奧氏體鋼以及合金鋼中鐵素體的含量，確保工件運(yùn)行安全可靠不發(fā)生事故。儀器小巧玲瓏簡單便攜易于上手。
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德國fischer DualScope FMP20 涂鍍層測厚儀能夠或許自動(dòng)識別底材資料而且集成為了兩種丈量辦法，使這個(gè)系列的儀器能夠丈量鋼材和鐵材亦或長短鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。因?yàn)榫奂藘煞N丈量辦法，這個(gè)系列的儀器還能夠或許在一次丈量過程當(dāng)中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），而且分離表現(xiàn)進(jìn)去。
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進(jìn)口鐵素體檢測儀設(shè)備特性FISCHER fmp30 無損測量奧氏體鋼和雙相鋼內(nèi)的鐵素體含量，只需一次校準(zhǔn)就能滿足常用的測量范圍0.1-90FN。。儀器能識別所有的磁性部件，也就是說，除了delta鐵素體，還能識別其轉(zhuǎn)化形式馬氏體。
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德國Fischer FMP30系列多個(gè)應(yīng)用程序測厚儀 DELTASCOPE® 用于鋼和鐵上的涂鍍層 ISOSCOPE® 用于鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層 DUALSCOPE® 具有自動(dòng)底材識別并兼具兩種測量方法（磁感應(yīng)和渦流）；DUALSCOPE 可測量鐵/鋼或非鐵磁性金屬以及非導(dǎo)電底材上的多種涂鍍層 非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級涂鍍層 使用非鐵磁性金屬制成的厚涂層或鋼上的保護(hù)涂鍍層
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測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法。
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華東代理fischer xdl-b鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下，單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C
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Fischer鐵素體校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 套件（含證書） Helmut Fischer提供鑒定過的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片供客戶校準(zhǔn)儀器，這些標(biāo)準(zhǔn)片可以追溯到TWI二級標(biāo)準(zhǔn)片。標(biāo)準(zhǔn)片上標(biāo)明了兩種單位：鐵素體個(gè)數(shù)FN和百分比含量%Fe。可通過發(fā)貨前設(shè)置修正系數(shù)或用客戶定制的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器來減少工件幾何形狀（曲率、厚度等）對測量的影響
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德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。 通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)
查看詳細(xì)介紹17321369640
菲希爾測厚儀